• صفحه اصلی
  • جستجوی پیشرفته
  • فهرست کتابخانه ها
  • درباره پایگاه
  • ارتباط با ما
  • تاریخچه
تعداد ۱۶ پاسخ غیر تکراری از ۱۶ پاسخ تکراری در مدت زمان ۰,۸۱ ثانیه یافت شد.

1. Advanced electron microscopy and nanomaterials

پدیدآورنده: / Arturo Ponce and Dario Bueno

کتابخانه: کتابخانه پرديس 2 دانشکده‌های فنی دانشگاه تهران (تهران)

موضوع: Electron microscopy,Nanostructured materials

رده :
TA
418
.
9
.
N35A3275
2010
مشاهده در قفسه مجازی RIS Bibtex ISO

2. Advanced electron microscopy and nanomaterials: selected, peer reviewed papers from the First Joint Advanced Electron Microscopy School for Nanomaterials and the Workshop on Nanomaterials )AEM-NANOMAT '09(, Saltillo )Coahuila( Me۱ج‌xico, September 29th-October 2nd, 2009

پدیدآورنده: edited by: Arturo Ponce and Dario Bueno

کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)

موضوع: Congresses ، Electron microscopy,Congresses ، Nanostructured materials

رده :
TA
418
.
9
.
N35
A3275
2010
مشاهده در قفسه مجازی RIS Bibtex ISO

3. Advanced transmission electron microscopy

پدیدآورنده:

کتابخانه: كتابخانه پردیس علوم (دانشگاه تهران) (تهران)

موضوع: Transmission electron microscopy,Nanostructured materials -- Nondestructive testing

رده :
QH
212
.
T7
A35
2015
مشاهده در قفسه مجازی RIS Bibtex ISO

4. Advanced transmission electron microscopy

پدیدآورنده: / Francis Leonard Deepak, Alvaro Mayoral, Raul Arenal, editors

کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)

موضوع: Transmission electron microscopy.,Nanostructured materials--Nondestructive testing

رده :
QH212
.
T7A39
2015
مشاهده در قفسه مجازی RIS Bibtex ISO

5. Characterization of microstructures by analytical electron microscopy (AEM)

پدیدآورنده: / Yonghua Rong

کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد و انتشارات دانشگاه تبریز (آذربایجان شرقی)

موضوع: Nanostructured materials - Nondestructive testing,Electron microscopy

رده :
TA417
.
23
.
R66
2012
مشاهده در قفسه مجازی RIS Bibtex ISO

6. Instrumentations and Nanostructures

پدیدآورنده: A.S. Bhatia, foreword by S.M.Ishtiaque

کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشكده نفت اهواز (خوزستان)

موضوع: Nanostructures,Nanostructured materials,Nanotechnology,Nanoscience,electron microscopy

رده :
QC
,
178
.
8
,.
B53
,
2009
مشاهده در قفسه مجازی RIS Bibtex ISO

7. Nanofabrication

پدیدآورنده:

کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی اصفهان (اصفهان)

موضوع: Nanostructured materials ► Nanostructures ► Scanning probe microscopy ► Lithography, Electron beam

رده :
TA
418
.
9
.
N35
N252
2008
مشاهده در قفسه مجازی RIS Bibtex ISO

8. Nanofabrication

پدیدآورنده: / editor, Ampere A. Tseng

کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه بين المللی امام خمينی (ره) قزوين (قزوین)

موضوع: Nanostructured materials,Nanostructures,Scanning probe microscopy,Lithography, Electron beam

رده :
TA418
.
9
.
N35
,
N252
2008
مشاهده در قفسه مجازی RIS Bibtex ISO

9. Nanofabrication: fundamentals and applications

پدیدآورنده: editor, Ampere A. Tseng

کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه صنعتی خواجه نصير الدين طوسى (تهران)

موضوع: ، Nanostructured materials,، Nanostructures,، Scanning probe microscopy,، Lithography, Electron beam

رده :
TA
418
.
9
.
N35
N252
مشاهده در قفسه مجازی RIS Bibtex ISO

10. Nanoscale spectroscopy and its applications to semiconductor research

پدیدآورنده: International workshop on nanoscale spectroscopy and its applications to semiconductor research (2000 :Trieste)

کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد دانشگاه اصفهان (اصفهان)

موضوع: Electron spectroscopy-Congresses ► Electron microscopy-Congresses ► Semiconductors-Materials-Congresses ► Nanostructured materials-Congresses

رده :
621
I61n
مشاهده در قفسه مجازی RIS Bibtex ISO

11. Progress in nanoscale characterization and manipulation /

پدیدآورنده: Rongming Wang, Chen Wang, Hongzhou Zhang, Jing Tao, Xuedong Bai, editors.

کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)

موضوع: Electron microscopy.,Nanostructured materials-- Optical properties.,Characterization and Evaluation of Materials.,Nanoscale Science and Technology.,Physics.,Spectroscopy and Microscopy.,Electron microscopy.,Nanostructured materials-- Optical properties.,Nanotechnology.,Science-- Nanostructures.,Science-- Spectroscopy & Spectrum Analysis.,Spectrum analysis, spectrochemistry, mass spectrometry.,Technology & Engineering-- Material Science.,Testing of materials.

رده :
QH212
.
E4
مشاهده در قفسه مجازی RIS Bibtex ISO

12. Recent developments in thin film research

پدیدآورنده: / [G. Ritter ... et al., editors]

کتابخانه: كتابخانه پردیس علوم (دانشگاه تهران) (تهران)

موضوع: Thin films,Epitaxy,Nanostructured materials,Electron microscopy,X-rays -- Diffraction

رده :
TA
418
.
9
.
T45
S94
1997
مشاهده در قفسه مجازی RIS Bibtex ISO

13. Scanning transmission electron microscopy of nanomaterials :

پدیدآورنده: editor, Nobuo Tanaka, Nagoya University, Japan.

کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)

موضوع: Nanostructured materials.,Scanning transmission electron microscopy.

رده :
RIS Bibtex ISO

14. Scanning transmission electron microscopy of nanomaterials

پدیدآورنده: editor, Nobuo Tanaka.

کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)

موضوع: Nanostructured materials.,Scanning transmission electron microscopy.,Nanostructured materials.,Scanning transmission electron microscopy.

رده :
RIS Bibtex ISO

15. Scanning transmission electron microscopy of nanomaterials : basics of imaging and analysis

پدیدآورنده: ]edited by[ Nobuo Tanaka, Nagoya University, Japan

کتابخانه: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (تهران)

موضوع: ، Scanning transmission electron microscopy,، Nanostructured materials

رده :
QH
212
.
S34
S23
2014
مشاهده در قفسه مجازی RIS Bibtex ISO

16. Structure analysis of advanced nanomaterials

پدیدآورنده: / Takeo Oku.

کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد دانشگاه تهران (تهران)

موضوع: Transmission electron microscopy ,High resolution electron microscopy , Nanostructured materials , Structural analysis (Engineering)

رده :
QH212
.
T7
O38
2014
مشاهده در قفسه مجازی RIS Bibtex ISO
  • »
  • 1
  • «

پیشنهاد / گزارش اشکال

اخطار! اطلاعات را با دقت وارد کنید
ارسال انصراف
این پایگاه با مشارکت موسسه علمی - فرهنگی دارالحدیث و مرکز تحقیقات کامپیوتری علوم اسلامی (نور) اداره می شود
مسئولیت صحت اطلاعات بر عهده کتابخانه ها و حقوق معنوی اطلاعات نیز متعلق به آنها است
برترین جستجوگر - پنجمین جشنواره رسانه های دیجیتال